Fischer X熒光射線測厚儀

Fischer X熒光射線測厚儀

菲希爾X射線測厚儀特點

X熒光射線測厚儀根據DIN ISO 3497和ASTM B 568標準進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線熒光光譜儀

X熒光射線測厚儀半導體檢測器（PIN和SDD） 確保出色的檢測精度和高分辨率

XAN 250和252：用于測量鋁，硅或硫之類的輕元素；

準直器：固定或4種可切換，最小測量點約為0.3mm

基本濾片：固定或6種可切換

固定樣品支架或手動XY載物臺

攝像頭可輕松定位最佳測量位置

樣品高度最多17厘米;

菲希爾X射線測厚儀應用

Fischer x射線測厚儀牙科合金的無損分析，銀測試

多層鍍層測試

電子和半導體行業中厚度為10nm以上的功能涂層的分析

消費者保護中的痕量分析，例如測試玩具中的鉛含量

根據珠寶業和煉油廠最高精度要求測量金屬合金含量

駿展儀器產品覆蓋長度測量儀器,光學儀器,形狀,工具,材料檢測儀器、涂層和表面處理的測試儀器,已經為許多國內外大中型企業提供服務,優良的品質和完善的服務,贏得了客戶的*,并建立了一個穩固的市場地位。公司主要從事物理表面檢測儀器的銷售和服務。擁有長期致力于行業的高科技人才和高效的管理團隊，人才是公司立足的根本保證，也是公司未來發展的堅實基礎，是公司更寶貴的財富。