
FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240 是德國(guó) Helmut Fischer(菲希爾)公司推出的一款高性能臺(tái)式X射線熒光(XRF)測(cè)量?jī)x器。作為 XULM 系列的入門級(jí)型號(hào),XULM240 專為小型工件的無損涂層厚度測(cè)量和材料分析而設(shè)計(jì),廣泛適用于電鍍、電子元器件、連接器、五金配件等行業(yè)的質(zhì)量控制與來料檢驗(yàn)。
該儀器體積緊湊、操作簡(jiǎn)便,尤其適合精密零部件如插頭、接插件、線纜、小型電路板等的測(cè)量需求,是質(zhì)量保證、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)過程控制中重要的工具。
1. 微焦斑X射線源
XULM240 配備微焦點(diǎn)鎢靶X射線管,搭配鈹窗設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)極小的測(cè)量光斑,特別適合微型工件的精確定位測(cè)量,滿足高精度檢測(cè)需求。
2. 比例計(jì)數(shù)器檢測(cè)
采用比例計(jì)數(shù)器管檢測(cè)器,可實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,從而獲得高精度的測(cè)量結(jié)果。該檢測(cè)器在處理大測(cè)量距離和復(fù)雜形狀樣品時(shí)表現(xiàn)優(yōu)異,即使是小測(cè)量光斑也能保證良好的測(cè)量穩(wěn)定性。
3. 電動(dòng)切換準(zhǔn)直器與濾光片
儀器配備可電動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和基礎(chǔ)濾光片,能夠針對(duì)不同測(cè)量任務(wù)自動(dòng)創(chuàng)建最佳激發(fā)條件,操作靈活高效。
4. 菲希爾基礎(chǔ)參數(shù)法
借助菲希爾自主研發(fā)的基礎(chǔ)參數(shù)法(Fundamental Parameter Method),用戶可在無需校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)樣的情況下,完成固體和液體樣品的成分分析及涂層厚度測(cè)量,顯著簡(jiǎn)化了日常檢測(cè)流程。
5. 直觀的視頻顯微鏡系統(tǒng)
內(nèi)置高分辨率CCD彩色攝像頭,沿主光軸方向提供光學(xué)監(jiān)控,搭配校準(zhǔn)標(biāo)尺和十字準(zhǔn)線,支持最高184倍放大(含數(shù)字變焦),方便用戶精確定位測(cè)量點(diǎn)。
6. 自主研發(fā)距離補(bǔ)償技術(shù)(DCM)
DCM(Distance Compensation Method)自主研發(fā)方法可對(duì)不同測(cè)量距離進(jìn)行補(bǔ)償,降低了因樣品高度差異帶來的測(cè)量誤差,使測(cè)量過程更加簡(jiǎn)便。
電鍍行業(yè):金、銀、鎳、銅等單層或多層電鍍層厚度檢測(cè)
電子元器件:連接器、插頭、焊盤等小型零部件的鍍層質(zhì)量控制
五金制造:緊固件、接插件等產(chǎn)品的表面處理檢測(cè)
來料檢驗(yàn):供應(yīng)商鍍層質(zhì)量的進(jìn)廠驗(yàn)收
生產(chǎn)過程控制:產(chǎn)線上快速、無損的涂層厚度監(jiān)控
材料分析:簡(jiǎn)單合金層的成分定性分析
FISCHERSCOPE XULM240 作為菲希爾入門級(jí)X射線熒光測(cè)量?jī)x器,憑借微焦斑光源、比例計(jì)數(shù)器、電動(dòng)切換系統(tǒng)以及菲希爾基礎(chǔ)參數(shù)法等技術(shù)優(yōu)勢(shì),為電鍍、電子、五金等行業(yè)提供了一套高效、可靠的無損檢測(cè)方案。其緊湊的設(shè)計(jì)和便捷的操作方式,使其成為中小型檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線質(zhì)量控制的理想選擇。
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