菲希爾測厚儀Feritscope X-RAY XDLM237

x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設計理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設計為界面友好的臺式測量儀器系列，配備了馬達驅(qū)動的X/Y工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅(qū)動的可編程Z軸升降系統(tǒng)。

高分辨率的彩色視頻攝像頭可方便定位測量位置。配備了激光點，可以輔助定位并快速對準測量位置。

測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。

帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的調(diào)整。

所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM軟件在電腦上完成。

XDLM237型鍍層測厚及材料分析儀*DIN ISO 3497標準和ASTM B 568標準，型式許可符合德國“Deutsche Rntgenverordnung-RV"法規(guī)規(guī)定。

為每次測量創(chuàng)造理想的激發(fā)條件，儀器配備可電動調(diào)整的多個準直器和基本濾片。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。

FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM237系統(tǒng)有著出色的性和良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器，節(jié)省時間和精力。

由于采用了基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。

菲希爾測厚儀Feritscope X-RAY XDLM237

x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237參數(shù)規(guī)格：

通用規(guī)格

X射線源