FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是德國菲希爾 (Fischer) 公司生產(chǎn)的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，屬于 XDL 系列的中端型號，專為質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控設(shè)計。它采用無損檢測技術(shù)，可精確測量鍍層厚度和材料成分，廣泛應用于電鍍、電子、汽車和航空航天等行業(yè)。

菲希爾X射線測厚儀XDL230技術(shù)亮點

DCM 技術(shù): 測量距離補償法，可遠距離對焦 (0~80mm)，輕松測量腔體內(nèi)部或表面不平整樣品

視頻輔助系統(tǒng): 高分辨率彩色 CCD 攝像頭 (40~160 倍放大)，帶激光定位點，便于精確測量定位

WinFTM 軟件: 強大的分析軟件，支持無標準片測量 (基本參數(shù)法)，自動生成統(tǒng)計報告

應用領(lǐng)域

電鍍行業(yè)

測量防護性鍍層 (如 Zn/Fe 防腐鍍層)

裝飾性鍍層 (如 Cr/Ni/Cu/ABS) 厚度檢測

電鍍?nèi)芤撼煞址治?(Cu, Ni, Au 等金屬離子濃度)

電子 / PCB 行業(yè)

印刷電路板 (PCB) 上的功能性鍍層測量 (如 Au/Ni/Cu/PCB)

連接器和觸點鍍層厚度檢測

半導體行業(yè)功能性鍍層測量

其他領(lǐng)域

汽車零部件鍍層質(zhì)量控制

醫(yī)療器械鍍層檢測

珠寶、手表行業(yè)貴金屬鍍層測量

航空航天精密零件鍍層分析