菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500功能特點

高精度測量：配備高性能硅漂移探測器（SDD）和優化的 X 射線管，可實現對從輕元素到重元素的高靈敏度檢測，尤其適用于微米甚至納米級鍍層的精密測量，重復性和穩定性佳。

鍍層與成分同時測量：只需一次測量，即可同時檢測涂鍍層的厚度和成分，如鐵上的鋅鎳合金等，提高了檢測效率。

無標準測量：采用基本參數法，無需校驗標準片即可分析樣品成分和測量鍍層厚度，方便了實際操作。

靈活的測量方式：既可以作為手持式設備使用，也可通過選配便攜式智能箱成為臺式測量設備，還能直接整合到生產線中，適用于不同場景的測量需求。

操作簡便：內置多種標準曲線，開機預熱 30 秒，選擇對應的鍍層材質和基底類型，對準樣品后按下測量鍵，10-30 秒就能出結果，新手也能快速上手。

數據處理便捷：支持實時存儲和 USB 導出，導出的 Excel 表格直接包含測量時間、厚度值、偏差范圍等信息，便于后續統計分析。

技術參數

測量點直徑：約 3 毫米。

防護等級：IP54，防塵防水，適合戶外使用。

電池續航：電池充電一次，工作時間長達 6 小時。

重量：約 1.9 千克。