菲希爾鍍層測厚儀Fischer膜厚儀

菲希爾鍍層測厚儀Fischer膜厚儀

菲希爾涂層測厚儀特性：

使用準確性高的電解退鍍技術（庫侖法），測量多鍍層的厚度

圖形顯示的交互方式，易于操作

適用性廣泛：可測量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度，也適合測量多鍍層厚度

提供全面的附件產(chǎn)品供您選擇，可滿足特定需求

Couloscope CMS2 STEP菲希爾測厚儀應用：

金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層

單層或多層的鍍層厚度測量

特別適用于通過 STEP 測試進行多層鎳測量

適用于 0.05 μm 至 40 μm 的鍍層厚度測量

COULOSCOPE CMS2菲希爾庫倫法測厚儀

COULOSCOPE CMS2 Fischer測厚儀和COULOSCOPE CMS2 STEP菲希爾測厚儀根據(jù)庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差

庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度

COULOSCOPE CMS2 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構; 它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法 （DIN EN ISO 2177）。 簡單的操作和菜單化的操作指導使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗理想的解決方法。設備為不同的鍍層結(jié)構配備了近100個預留的應用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）, 以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。

COULOSCOPE CMS2 STEP的特征是STEP測試功能（同時測定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試 （根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022）。鍍層厚度根據(jù)庫侖法得出， 而電位差則由一個鍍有AgCl的銀電極得到。

無錫駿展儀器有限責任公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)解決方案廣泛應用于大中型國有企業(yè)、汽車制造、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、航空航天、工程建設、大學和其他研究實驗室和生產(chǎn)線,質(zhì)量控制,和教育事業(yè),以評估的幾何特征的材料,組件和結(jié)構和理化性質(zhì),*制造技術的驅(qū)動精益求精。

Fischer DUALSCOPE MP0涂層測厚儀技術參數(shù)

量 程：0～2000μm。

分辨率0.00um

精 度±1μm（0～50μm）；±2%（50μm～1000μm）；±3%（1000μm～2000μm）。

重復精度 ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%（＞100μm）。

測量曲率直徑

在精度范圍內(nèi)，鐵基φ35mm，非鐵基φ50mm；

（在允許誤差＜10%時，鐵基為φ10mm，非鐵基為φ2mm）

測量面積直徑φ4mm（在允許誤差＜10%時，為φ2mm）

基體厚度鐵基0.2mm（誤差＜10%時）；非鐵基0.09mm（誤差＜10%時）。

重 量60g（不含電池

外形尺寸64mm×30m×85mm。

電 源兩節(jié)5號電池。