DELTASCOPEFMP10規(guī)格

　　Phascope PMP10 Duplex渦流相敏測厚儀配備有一個*的和便于讀取的60x30mm（2.4"x1.2"））液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測量讀數(shù)，測量次數(shù)，以及顯示操作模式和設置的圖標和符號，2行文本各16個字母或可自由選擇的符號用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示用于測量非磁性涂鍍層例如：鉻、銅、鋅、油漆、搪瓷或塑料在鐵基材上的厚度。

　　PhascopePMP10Duplex渦流相敏測厚儀的應用：菲希爾MP10磁感應涂層測厚儀采用根據(jù)DINENISO2178,ASTMB499標準的電磁感應方法，根據(jù)電磁感應（DINENISO2178）原理，采用微處理器控制的便攜式涂鍍層測量儀。

     Phascope PMP10 Duplex渦流相敏測厚儀的應用領域測量大規(guī)模生產的電鍍零件防腐鍍層和裝飾性鍍層，如鎳/銅上的鉻電鍍工業(yè)中電鍍液的分析黃金、珠寶和鐘表工業(yè)，德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPEXDL應用實例：XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結構如或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得大的信號強度。

　　FISCHERSCOPEX-RAYXDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關：兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。

　　XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng)造的激勵條件。