X 射線熒光測(cè)厚儀 XDL 系列信息
更新時(shí)間：2025-08-05 點(diǎn)擊次數(shù)：541次
德國(guó)菲希爾 X 射線熒光測(cè)厚儀 XDL 系列，以其性能在材料檢測(cè)領(lǐng)域占據(jù)重要地位。其中，XDL 230 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它采用手動(dòng)方式，能精準(zhǔn)測(cè)量和分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層，以及大規(guī)模生產(chǎn)零部件上的鍍層。
XDL 230 具備諸多出色特性。在穩(wěn)定性方面表現(xiàn)良好，長(zhǎng)期使用無需頻繁校準(zhǔn)儀器，為用戶節(jié)省了大量時(shí)間與精力。其比例接收器可實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，從而保障了高精度測(cè)量，能精準(zhǔn)檢測(cè)出鍍層厚度的細(xì)微差別。該儀器采用 FISCHER 基本參數(shù)法，突破傳統(tǒng)限制，無論是復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，還是固體和液體樣品，均可在無標(biāo)準(zhǔn)片的情況下完成測(cè)量和分析，極大提升了檢測(cè)的靈活性與便捷性。
從操作便利性來看，XDL 230 是一款用戶界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器。手動(dòng)操作的 XY 工作臺(tái)搭配馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸系統(tǒng)，方便靈活。高分辨率的彩色視頻攝像頭具有強(qiáng)大放大功能，可精確定位測(cè)量位置，操作人員還能通過視頻窗口實(shí)時(shí)觀察測(cè)量過程和進(jìn)度。儀器配備的激光點(diǎn)，進(jìn)一步輔助定位，能快速對(duì)準(zhǔn)測(cè)量位置。測(cè)量箱底部的開槽設(shè)計(jì)，專為面積大而形狀扁平的樣品打造，使儀器可測(cè)量比測(cè)量箱更長(zhǎng)和更寬的樣品，比如大型的印制電路板，輕松滿足多樣化的檢測(cè)需求。
蘇公網(wǎng)安備32021402002647
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