FISCHERSCOPE X-RAY XUL和 XULM系列菲希爾熒光鍍層測厚儀是功能*的多用途測量設(shè)備，能夠精準應(yīng)對各類鍍層厚度檢測需求。無論是極薄至 50 nm 的金鍍層，還是高達 100 μm 的錫鍍層，通過優(yōu)化配置的高壓濾片組合，都能實現(xiàn)高精度測量。其搭載的微聚焦管技術(shù)，可在短測量距離下實現(xiàn)小至 100 μm 的測量點，精準定位微小區(qū)域。同時，比例接收器支持高達數(shù) kcps 的計數(shù)率，確保測量數(shù)據(jù)快速、準確。

在設(shè)計上，該系列儀器將 X 射線源與接收器置于測量室下方，大幅簡化了樣品定位流程，配合視頻窗口輔助，可快速完成樣品的精準定位。前方的大尺寸控制臺設(shè)計，讓操作更加便捷高效，尤其適用于日常生產(chǎn)中大量部件的快速檢測場景。盡管整體結(jié)構(gòu)緊湊，但其配備的大容量測量室，足以容納大型物品進行檢測。此外，殼體 C 型槽開槽設(shè)計，專門針對印刷線路板等大尺寸平整樣品，即使樣品無法置入測量室，也能直接放置于平整支撐臺或高精度手動 XY 工作臺上，實現(xiàn)靈活檢測，充分滿足多樣化的工業(yè)測量需求。