MINITEST2100測厚儀EPK代理信息

德國Elektrophysik MINITEST2100膜厚儀

EPK MINITEST 2100校準方式 ：

EPK MINITEST1100/2100有以下五種不同的校準方式：標準校準:適合平整光滑的表面和大致的測量。例如，低于一點校準精度要求的場合。

一點校準:置零，不用標準箔。用于允許誤差超過3%的場合。

二點校準:置零，用一片標準箔。用于誤差范圍在1-3%(*大)之間的測量。探頭誤差范圍應(yīng)另考慮。

二點校準:置零，用二片標準箔。用于以下場合:

• A). 在粗糙表面測讀;

• B). 厚度在兩片箔厚之間的平滑表面的測量。

透過厚度未知涂層的校準:用箔校準(僅適用于F06、F1.6、F3、作F用的FN2測頭,以及F1.6/90、F2/90、F10、F20、F50探頭)。如果被測樣本在校準時，沒有無涂層的用于比較的樣本，應(yīng)當采用此法校準。

注意:校準箔是指所有的校準標準，包括2mm，5mm，10mm厚的標準板。