菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。XDL230有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。

由于采用了Fischer的全基本參數法，該儀器既能測量和分析涂層系統，又能測量和分析固體和液體樣品，而不需要標準件。Xd230特別適合客戶進行質量控制、進貨檢驗和生產過程監控。

FISCHERSCOPE X射線XDL 230是一款桌面測量儀器，具有友好的用戶界面。手動操作X-Y工作臺和電機驅動Z軸系統。高分辨率彩色攝像機具有*的放大功能，可以準確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。測量盒底部的槽是專門為面積大、形狀扁平的樣品設計的，使儀器可以測量比測量盒更長、更寬的樣品。例如大型印刷電路板。帶有放大倍率和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品放置，并允許精確調整測量點。所有的儀器操作、測量數據的計算、測量數據報告的清晰顯示都可以通過WinFTM軟件在計算機上完成，功能*，界面友好。XD-L涂層厚度測量和材料分析儀是一種受保護的儀器，其型式許可符合德國“Deutsche rntgenverordnung-RV"法規。