菲希爾代理測厚儀使用方法

7設(shè)置儀器和探頭

當儀器開機后，會遇到下面的幾種情況：

1.儀器和連接的探頭已經(jīng)握手，并且有可用的應用程式，屏幕上顯示測量界面。在屏幕上方的測量方法標記沒有閃爍， 在這種情況下，可以開始進行測量。

2.儀器不能識別探頭。這種情況下，屏幕會出現(xiàn)“W006 探頭更改！"，這時需要指派新的探頭。

7.1指派新的探頭

怎樣指派新探頭

1.關(guān)閉電源。

2.接上一個新探頭。

3.開機，如果該探頭第一次和主機連接，則顯示屏上會顯示.

開機后，如果當前探頭不是儀器上一次使用時的探頭，就會跳出這條警告信息。然后，在測量界面上方的測量標記閃爍。

‘指派新的探頭？’ “FD10"：連接著的探頭型號

如按 DEL 鍵：開始指派新的探頭。

如按 ENTER 鍵：不指派新探頭，在測量界面上方的測量標記閃爍。

DEL‘刪除測量數(shù)據(jù)？’

如按 DEL 鍵：所有測量數(shù)據(jù)被刪除，當前所有應用程式都會被指派為新探頭。如按 ENTER 鍵： 不指派新探頭，放棄并回到測量界面，在測量界面上方的測量標記閃爍。

測量底材，做歸零化或者調(diào)校。

如果只有“ZERO"出現(xiàn)，那么只進行歸零化就足夠了。

按 ENTER 鍵：跳過歸零化，只進行調(diào)校。按 DEL 兩次：現(xiàn)存的調(diào)校被刪除。

按 CAL 鍵：取消所有歸零化和調(diào)校操作。

7.2歸零

歸零是為應用程式建立一個測量零位，它會存儲在主機內(nèi)。

注：請用相同材質(zhì)和形狀的加工前工件作底材，形狀或材質(zhì)改變后需要重新歸零/校準！

按 ZERO 鍵，開始做歸零，屏幕會顯示：

ZERO按ZERO 鍵開始打開程式的歸零化。

ZERO 在歸零化過程中始終在顯示屏上出現(xiàn)。

『S』：標準偏差

『n』：測量次數(shù)

『Base material(Fe/NF)』:測量底材是鋼鐵等磁性金屬還是非鐵金屬。

按 ENTER 鍵取消歸零化

在未鍍鍍層樣品（基材）上進行測量。

測量次數(shù)以 7.1.1 節(jié)中推薦的次數(shù)為準。

所有讀數(shù)的平均值將顯示

一次 DEL 鍵：刪除上一次測量兩次 DEL 鍵：刪除所有測量

按鍵操作液晶顯示屏信息介紹

ENTER‘歸零化成功完成’

確認完成歸零化

點擊 ENTER 確認

PRINT：如打印機連接并開啟則歸

零以打印格式輸出

ENTER新的計算曲線將自動完成并存儲。儀

器準備好進行測量。

7.3校準

校準是使用標準片和底材對儀器進行調(diào)校，使測量結(jié)果準確的方法。

按鍵操作液晶顯示屏信息介紹

CAL按 CAL 鍵開始打開程式的校準。

CAL 在歸零化過程中始終在顯示屏

上出現(xiàn)。

『S』：標準偏差

『n』：測量次數(shù)

『Base material(Fe/NF)』:測量底材是

鋼鐵等磁性金屬還是非鐵金屬。

按 ENTER 鍵：取消歸零化（先前保

存的歸零保持不變）。

按 CAL 鍵：取消校準（先前保存的

校準保持不變）。

按 ZERO 鍵：開始‘鍍層上的校準’

功能（參閱 7.6.1 鍍層上校準的步驟）。

在未鍍鍍層樣品（基材）上進行測量

（歸零）。測量次數(shù)以 7.1.1 節(jié)中推薦的次數(shù)為準。

所有讀數(shù)的平均值將顯示。

一次 DEL 鍵：刪除上一次測量。兩次 DEL 鍵：刪除所有測量。ENTER 鍵結(jié)束并保存歸零結(jié)果。

按鍵操作液晶顯示屏信息介紹

ENTER

『Entry: ∧∨』：用方向鍵設(shè)定標準

片上的標稱值。如果在測量完標準片

后按∧或∨鍵可更快地輸入標稱值。

『CAL-rat.1:23.70』:輸入標準片上的

標稱值。

點擊 ENTER 鍵跳過校準操作。

在底材上放置標準片 1→進行幾次

測量，測量次數(shù)以 7.1.1 節(jié)中推薦的次數(shù)為準。

∧或∨按 ∧,∨ 設(shè)置標準片的標稱值厚度

(一直按住數(shù)字會快速跳動)。按 ENTER 結(jié)束并保存校準。

ENTER如有兩片標準片，第二片標準片的使

用方法與第一片相同。沒有則按ENTER 鍵結(jié)束校準。新的計算曲線將自動計算并保存。

7.4參考測量

使用參考測量來確認歸零化或校準的有效性，即程式的準確性。在參考測量中，讀數(shù)是從參照樣品中獲得的。如果這些讀數(shù)的偏差超過了企業(yè)設(shè)定的容許值，使用該參照樣品的歸零化或校準操作應重新進行。

參照測量需要參照樣品（與實際被測樣品有相同的基材材料、鍍層材料和形狀）。

參照樣品在接觸測量過程中容易磨損。參照樣品必須定期檢驗，如果磨損過大必須用新的參照樣品替代。